概括介紹

地質(zhì)測量的精細(xì)程度及主要任務(wù)取決于比例尺,一般分為小比例尺(1/20萬~1/100分以上),中比例尺(1/5萬~1/1萬)和大比例尺 (1/5千~1/5百以下)三種。小比例尺圖的填圖單元(被測地質(zhì)體單元)較大。填圖面積大,地質(zhì)點及觀測線的間距大。反映區(qū)域性地質(zhì)規(guī)律;大比例尺圖的填圖單元劃分很細(xì)。地質(zhì)體的細(xì)微特征均應(yīng)反映,填圖面積很小,地質(zhì)點及觀測線間距很小。一般用于礦體、地基及重要地質(zhì)意義地區(qū)。一般在某區(qū)進(jìn)行地質(zhì)測量時先作小比例尺測量,然后逐步向大比例尺過渡。從第一張地質(zhì)圖問世以來已有近150年的發(fā)展歷史。本法隨著地質(zhì)基礎(chǔ)科學(xué)的發(fā)展而前進(jìn)。遙測遙感技術(shù)、計算機(jī)技術(shù)、地球物理與地球化學(xué)技術(shù)的引進(jìn)是本法的發(fā)展趨勢。